型 號: | NanoScan |
所屬分類: | HOMMEL粗糙輪廓度儀 |
報 價: | 市場價: |
德國HOMMEL NanoScan高精(jing)密粗(cu)糙輪廓(kuo)度測量儀
霍梅爾NanoScan高精密粗糙(cao)輪(lun)廓度(du)測量(liang)儀可以在一個測量(liang)流(liu)程內組合測量(liang)粗糙(cao)度(du)和輪(lun)廓,柔性大,能(neng)夠滿足表面測量(liang)技術的所有(you)需求,既省時,又省費用。
技術特點 | 主要特點 |
?電子(zi)測頭(tou)臂(bei)識別(bie)技術 | ?超精密的光機探測系統(tong) |
?探(tan)測頭(tou)的電子(zi)保護裝置 | ?通用性好 |
?電子(zi)調節探測力 | ?極富人性(xing)化的設計 |
?高精度的測頭臂定(ding)位 | ?測頭臂的選擇范圍廣 |
?可(ke)上下測量 | ?創(chuang)新的(de)技術(shu) ?校準方法簡單 ?新的評價可能:可上下測量(liang),測量(liang)工件表面形貌時的測量(liang)行(xing)程大 |
校(xiao)準方法 | 帶電(dian)子識別功能(neng)的測頭臂(bei)支架 由(you)于使(shi)用了磁(ci)性測(ce)頭(tou)臂支架,所(suo)以測(ce)頭(tou)臂的更(geng)換迅(xun)速(su)可靠 | 可上(shang)下測(ce)量 測(ce)(ce)(ce)頭臂(bei)安裝了雙(shuang)探測(ce)(ce)(ce)頭,所(suo)以一(yi)次運行可上下探測(ce)(ce)(ce) |
選項 | 供貨范圍 |
?用于特殊(shu)測量(liang)需求(qiu)的粗糙度(du)和輪廓測頭臂(bei) ?經過認證(zheng)的qs-STAT接口(AQDEF)。 ?輪廓標(biao)準塊KN8 ?可保(bao)護(hu)測量系統(tong)免受(shou)環境影(ying)響的護(hu)罩
| ?帶22"TFT顯示(shi)屏的評價電腦,CD刻錄器,粗(cu)糙度和(he)輪廓測(ce)量評價軟件 ?具有自動(dong)保(bao)存(cun)功能的PDF打(da)印機(ji) ?wavecontrol™basic操作面板 ?包含3個帶金剛(gang)石探測頭(tou)或紅寶(bao)石測頭(tou)的(de)測頭(tou)臂 ?粗糙度標準塊RNDH2 ?用于(yu)緊(jin)固工件的測量臺MT1 XYO ?校準用球形標準件(jian)
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型號(hao) | NanoScan855 |
測量范圍 | R+C:24/48mm |
zui小分(fen)辨率 | R+C:0.6/1.2nm |
水平測量范圍/水平分辨率 | 200mm/0.01μm |
測(ce)量立柱行程(cheng) | 550mm |
硬(ying)巖石板 | 850x600mm |