| 型 號： | TomoScope X |
| 所屬分類： | X射線工業CT斷層掃描測量儀 |
| 報 價： | 市場價: |
德國WerthTomoScope X射線坐(zuo)標測量機
Werth*家將X射(she)線掃描成(cheng)像技術整合到三坐標(biao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)系統，實現(xian)(xian)產品(pin)無(wu)損(sun)可視化(hua)準(zhun)確測(ce)(ce)量(liang)(liang)，并(bing)可選配光學、光纖(xian)、探針、激光掃描等多(duo)種傳感(gan)器。對工(gong)件內外(wai)部所有(you)結構(gou)尺寸全面的(de)高精密(mi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，同(tong)(tong)時可實現(xian)(xian)工(gong)件材質的(de)缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復合材料、金屬等多(duo)種材質制成(cheng)的(de)產品(pin)進行無(wu)損(sun)尺寸測(ce)(ce)量(liang)(liang)和裝配評估(gu)等。壓縮測(ce)(ce)量(liang)(liang)周期的(de)同(tong)(tong)時，保證了高品(pin)質的(de)要(yao)求。此(ci)機榮獲2005年度歐洲模具設計(ji)金獎。
Tomo測量機主要特點：
◆ *家將X射線斷層(ceng)掃描成像(xiang)技術整合到三坐標(biao)測(ce)量系統，實現復雜部(bu)件高精度內(nei)外尺寸全面測(ce)量
◆ 可選配第二個(ge)Z軸，配置其(qi)他傳感器（光(guang)學、探 針、光(guang)纖、激(ji)光(guang)等）
◆ Werth公司技(ji)術(shu)(shu)復(fu)合(he)式傳感器技(ji)術(shu)(shu)，進(jin)一步保證 CT測量數據更準確
◆ 堅固的花崗巖基座，保(bao)證機(ji)器(qi)具有高穩(wen)定(ding)性(xing)
◆ 高(gao)精(jing)密機械軸承(cheng)技術及線性導軌系(xi)統(tong)，確(que)保實現zui 高(gao)精(jing)度(du)的測量
◆ 無論從設計還(huan)是結構，測量(liang)機(ji)*并超出X射線使用安全標準
◆ 基(ji)于Werth公(gong)司優異的圖形處(chu)理及3D重(zhong)構技術，測量速度(du)更快(kuai)
◆ Werth公(gong)司技(ji)術的X射(she)線傳感(gan)器獨立校準系統(tong)
◆ Werth公(gong)司技(ji)術的柵格(ge)斷層掃(sao)描技(ji)術：
精密測量微小(xiao)部件
掃描(miao)更(geng)大尺寸工(gong)件，提(ti)高分辨率
擴展(zhan)測量范圍
◆ 測量(liang)軟(ruan)件可(ke)快速3D重構，也(ye)可(ke)進行2D測量(liang)
◆ 測量(liang)工件內部尺(chi)寸的同時，也(ye)可實現(xian)材質缺陷分析
◆ 選用廣泛應用的WinWerth軟(ruan)件 (德國國家計量院PTB長度標準認(ren)證) ，界面友好，操作簡單
◆ 可使用(yong)*擬合(he)Bestfit及(ji)公(gong)差擬合(he)Tolerancefit軟(ruan)件進(jin)行輪廓匹配分析及(ji)三維CAD工件公(gong)差比(bi)對
◆ 廣泛應用于復(fu)雜尺寸測量(liang)，*評估，逆向工程，質(zhi)量(liang)控制等
應用領域(yu): 模具行業、逆向工(gong)程(cheng)、汽(qi)車行業、航空航天、精密機(ji)械加工(gong)、船舶等
技術參數：
型 號(hao) | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大測量(liang)工件尺寸(直(zhi)徑) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允許誤差(cha) (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允(yun)許誤差(cha)(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精(jing)度(du)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射線(xian)源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射線探測器(qi)像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分(fen)辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據(ju)標(biao)準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用(yong)TP200, WFP測(ce)量(liang)或CT傳感器(qi)(qi)選(xuan)擇同(tong)等及更高(gao)精度探(tan)針修正或光(guang)學傳感器(qi)(qi)選(xuan)用(yong)同(tong)等及更高(gao)精度探(tan)針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射線穿透能力：
Werth獨(du)有的(de)(de)用于(yu)高精度(du)、高分辨率測(ce)量的(de)(de)穿透型標靶射線(xian)源。此標靶在高管電壓（如(ru)300KV）和大(da)管電流(liu)的(de)(de)情況下能夠(gou)長時間穩(wen)定地保持微(wei)米級的(de)(de)焦點尺寸，這樣就能用微(wei)米級焦點(dian)的(de)X射線快速的(de)高(gao)精(jing)度(du)(du)、高(gao)分辨率進行(xing)測量高(gao)密(mi)度(du)(du)（如鋼）較大尺寸的(de)零件。
| 類別 | TomoScope | ||||
| 射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
| 鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
| 鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
| 塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
| 射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
| 光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm
| 0.00X mm – 0.X mm (反射(she)) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) |
應用(yong)實(shi)例(li)：
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