| 型 號： | 德國WERTH TOMO |
| 所屬分類： | X射線工業CT斷層掃描測量儀 |
| 報 價： | 市場價: |
工(gong)業CT掃(sao)描儀可實(shi)現產品無損可視(shi)化準確測量(liang)，并可選配光(guang)學(xue)、光(guang)纖(xian)、探針、激光(guang)掃(sao)描等多(duo)種(zhong)傳感器。對(dui)工(gong)件內外部所有結構尺(chi)寸(cun)全面的高精密測量(liang)，同時可實(shi)現工(gong)件材質的缺陷分析。可對(dui)塑料、陶瓷(ci)、復合(he)材料、金屬等多(duo)種(zhong)材質制成的產品進(jin)行無損尺(chi)寸(cun)測量(liang)和(he)裝配評估等。
Werth*家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量系統，工(gong)業(ye)CT掃描儀(yi)可實現產品無損可視化準確測量，并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復合材料、金屬等多種材質制成的產品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時，保證了高品質的要求。此工業(ye)CT掃描儀榮獲2005年度歐洲模具設計金獎。
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主要特點：
◆ *家將X射(she)線斷層掃描成像技術(shu)整合到三坐標測量系(xi)統，實現復雜部件(jian)高精(jing)度內外尺寸(cun)全面測量
◆ 可選配(pei)第(di)二個Z軸(zhou)，配(pei)置其他傳感器（光學、探 針、光纖、激光等(deng)）
◆ Werth公司技術復合式傳感器(qi)技術，進一步保證 CT測(ce)量數(shu)據更準(zhun)確
◆ 堅固的花崗(gang)巖基座，保證機器具(ju)有(you)高穩定性
◆ 高精密機械軸承技術(shu)及(ji)線性導軌系統，確(que)保實現zui 高精度的測量
◆ 無論從設計還是結構(gou)，測量機*并超出X射線(xian)使用安全標(biao)準
◆ 基于Werth公司優異(yi)的圖形處理(li)及3D重構技術，測量速度更(geng)快
◆ Werth公司技術的X射(she)線傳感(gan)器獨立校準系統
◆ Werth公司技術的柵格斷(duan)層掃描技術：
精(jing)密測量微小部件(jian)
掃描更大尺寸(cun)工件，提高分辨率
擴展測量范圍
◆ 測(ce)量軟件(jian)可快速3D重構，也可進行2D測(ce)量
◆ 測量工(gong)件(jian)內部尺寸的同(tong)時，也可實現材質(zhi)缺(que)陷分析
◆ 選用(yong)廣泛應用(yong)的WinWerth軟件 (德國(guo)(guo)國(guo)(guo)家計量院PTB長度標準(zhun)認證) ，界(jie)面友好(hao)，操作簡單
◆ 可使用*擬合Bestfit及(ji)公差擬合Tolerancefit軟件(jian)進(jin)行(xing)輪(lun)廓(kuo)匹配分(fen)析及(ji)三(san)維CAD工件(jian)公差比對
◆ 廣泛應用于復雜尺寸測量，*評估，逆(ni)向(xiang)工程，質量控制等
應用領域: 模(mo)具行業、逆向工(gong)程、汽車行業、航(hang)空航(hang)天、精(jing)密機械加工(gong)、船舶等
技術參數：
型 號 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大(da)測量工(gong)件(jian)尺寸(直徑(jing)) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允許誤差 (用(yong)CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允(yun)許(xu)誤差(E1:單軸精(jing)度(du)) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平(ping)面精(jing)度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間(jian)精度(du)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射線源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射線(xian)探(tan)測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線探測器尺寸(cun) | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定(ding)位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加(jia)速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣(qi)壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標準(zhun)ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用(yong)TP200, WFP測量(liang)或CT傳感(gan)器(qi)選(xuan)擇同(tong)等及更(geng)高精度探針修正或光學傳感(gan)器(qi)選(xuan)用(yong)同(tong)等及更(geng)高精度探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射線穿透能力：
Werth獨有的(de)用(yong)于高(gao)精度、高(gao)分(fen)辨率測量(liang)的(de)穿透型標(biao)靶射線源。此標(biao)靶在高(gao)管電(dian)壓(ya)（如300KV）和大(da)管電(dian)流的(de)情(qing)況下(xia)能夠長時(shi)間穩(wen)定(ding)地保持微米級(ji)的(de)焦點尺寸，這樣就能用(yong)微米級(ji)焦點的(de)X射(she)線(xian)快速的(de)高精度、高分辨率進行測(ce)量高密(mi)度（如鋼）較大尺寸的(de)零件。
| 類別 | TomoScope | ||||
| 射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
| 鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
| 鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
| 塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
| 射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
| 光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm
| 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射(she)) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) |
應用實例：
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