| 型 號： | |
| 所屬分類： | X射線工業CT斷層掃描測量儀 |
| 報 價： | 市場價: |
Werth*家將X射線掃描(miao)成像技術整合到三(san)坐(zuo)標測量系統，WERTH X射線工業CT斷層掃描(miao)測量儀可(ke)實(shi)現產品無損(sun)可(ke)視化(hua)準確測量，并可(ke)選配光(guang)學、光(guang)纖(xian)、探針、激光(guang)掃描(miao)等多(duo)種傳感器(qi)。對工件(jian)內外部所(suo)有結構尺(chi)寸全面的高精密(mi)測量，同時可(ke)實(shi)現工件(jian)材質的缺陷分析(xi)。
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀
德國Werth公司是*家(jia)將X射線掃(sao)描(miao)成像技術(shu)整合到三坐(zuo)標(biao)測(ce)(ce)(ce)量系(xi)統，實現產(chan)品(pin)無損可視化準確測(ce)(ce)(ce)量，并可選配光(guang)學、光(guang)纖、探針、激(ji)光(guang)掃(sao)描(miao)等多種傳感器。對工件內(nei)外(wai)部所有(you)結(jie)構尺寸(cun)(cun)全面的(de)(de)高精密測(ce)(ce)(ce)量，同時可實現工件材質(zhi)的(de)(de)缺陷分(fen)析。可對塑料、陶瓷、復合材料、金屬等多種材質(zhi)制成的(de)(de)產(chan)品(pin)進行無損尺寸(cun)(cun)測(ce)(ce)(ce)量和裝配評(ping)估(gu)等。壓(ya)縮測(ce)(ce)(ce)量周(zhou)期的(de)(de)同時，保證了高品(pin)質(zhi)的(de)(de)要求。Werth工業CT斷層(ceng)掃描測量儀此機榮(rong)獲(huo)2005年度歐洲模具設計(ji)金獎。
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀主要特點：
◆ 將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統，實現復雜部件高精度內外尺寸全面測量
◆ 可選配第二個Z軸，配置其他傳感器（光學、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術復合式傳感器技術，進一步保證 CT測量數據更準確
◆ 堅固的花崗巖基座，保證機器具有高穩定性
◆ 高精密機械軸承技術及線性導軌系統，確保實現zui 高精度的測量
◆ 無論從設計還是結構，測量機*并超出X射線使用安全標準
◆ 基于Werth公司優異的圖形處理及3D重構技術，測量速度更快
◆ Werth公司技術的X射線傳感器獨立校準系統
◆ Werth公司技術的柵格斷層掃描技術：
精密測量微小部件
掃描更大尺寸工件，提高分辨率
擴展測量范圍
◆ 測量軟件可快速3D重構，也可進行2D測量
◆ 測量工件內部尺寸的同時，也可實現材質缺陷分析
◆ 選用廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標準認證) ，界面友好，操作簡單
◆ 可使用zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
◆ 廣泛應用于復雜尺寸測量，*評估，逆向工程，質量控制等
Werth工業CT斷層掃描測量儀應用領域(yu): 模具行(xing)業(ye)、逆(ni)向工程(cheng)、汽車行(xing)業(ye)、航(hang)空航(hang)天(tian)、精密(mi)機械加工、船(chuan)舶等(deng)
技術參數(shu)：
| 型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大測(ce)量工件尺寸(直徑) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大(da)測(ce)量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大允許誤(wu)差(cha) (用CT傳(chuan)感(gan)器(qi)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大允許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| (E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| (E3:空間精度(du)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射線源 | 130kV(150,190kV可選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可選) |
| X射(she)線探測器像素(su) | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射線探測(ce)器(qi)尺寸(cun) | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定位速度(du) | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工作臺(tai)承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 氣(qi)壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據標準(zhun)ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量(liang)或CT傳感器選擇同(tong)等及(ji)更高(gao)精度探針修正(zheng)或光學傳感器選用同(tong)等及(ji)更高(gao)精度探針修正(zheng)
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
|
|||
|
|||
 |